Investigadores de la Universidad Estatal de Mordovia (MSU) N. P. Ogarev han desarrollado una metodología para controlar los poros en recubrimientos metálicos delgados de productos de ingeniería mecánica. Gracias a ella, es posible corregir los procesos tecnológicos de fabricación de productos, según informó el servicio de prensa de la universidad.

Las películas y recubrimientos metálicos se utilizan en microelectrónica, ingeniería de radio, óptica, tecnología láser, energía e ingeniería mecánica. Las características operativas de los productos dependen de la distribución de los poros dentro de estas películas y recubrimientos. Los científicos dividen condicionalmente los poros en 2 tipos: abiertos (interconectados) y cerrados (aislados dentro del material).

Los especialistas de Mordovia propusieron un nuevo método para determinar la magnitud de la porosidad total (integral) (la suma de los vacíos abiertos y cerrados) en una capa metálica de 1 a 50 µm de espesor. Para ello, los desarrolladores colocan una lámina con un orificio redondo sobre la capa investigada y la iluminan con un perfilógrafo óptico.

Luego, utilizando un medidor de espesor de fluorescencia de rayos X, se mide el espesor de rayos X efectivo de la capa metálica. Conociendo la diferencia entre el espesor geométrico y el espesor de rayos X, los científicos encuentran la porosidad integral, agregó Novopoltsev.

A diferencia de los métodos existentes para determinar la porosidad total, el método de los especialistas de la MSU N. P. Ogarev es simple y efectivo. La mayoría de las empresas tienen un perfilógrafo óptico y un medidor de espesor de fluorescencia de rayos X. Por lo tanto, no se requiere equipo adicional para su implementación, concluyó la universidad.