En la base de pruebas de la empresa Information Satellite Systems, que lleva el nombre del académico M. F. Reshetnev, ha aparecido un sistema láser capaz de medir deformaciones de antenas satelitales con una precisión inferior a una micra. El nuevo complejo está diseñado para controlar la geometría de las superficies reflectantes de los reflectores en condiciones lo más cercanas posible a las espaciales.
El desarrollo para la empresa fue creado por especialistas del Instituto de Diseño y Tecnología de Instrumentación Científica de la Rama Siberiana de la Academia Rusa de Ciencias. El sistema ya ha sido probado en muestras de equipos de antena y ha confirmado la precisión de medición declarada.
El complejo funciona dentro de una instalación termovacío e incluye un láser, un sistema de control, equipos de servidor y una cámara de video para observar las pruebas a través de la mirilla de la cámara. La tarea principal de la instalación es registrar incluso los cambios mínimos en la forma de la superficie reflectante durante las cargas de temperatura.
Los ingenieros lograron tal precisión gracias al modo de pulso del láser. Los destellos ultracortos no calientan la superficie del reflector, por lo que no se producen distorsiones adicionales durante las mediciones. Esto es especialmente importante al probar antenas espaciales, donde incluso las desviaciones de micras pueden afectar la calidad de la señal.
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