На испытательной базе компании Информационные спутниковые системы имени академика М. Ф. Решетнёва появилась лазерная система, способная измерять деформации спутниковых антенн с точностью менее одного микрона. Новый комплекс предназначен для контроля геометрии отражающих поверхностей рефлекторов в условиях, максимально приближённых к космическим.
Разработку для предприятия создали специалисты Конструкторско-технологического института научного приборостроения СО РАН. Система уже прошла проверку на образцах антенной техники и подтвердила заявленную точность измерений.
Комплекс работает внутри термовакуумной установки и включает лазер, систему управления, серверное оборудование и видеокамеру для наблюдения за испытаниями через иллюминатор камеры. Основная задача установки — фиксировать даже минимальные изменения формы отражающей поверхности во время температурных нагрузок.
Добиться такой точности инженерам удалось благодаря импульсному режиму лазера. Сверхкороткие вспышки не нагревают поверхность рефлектора, поэтому во время измерений не возникают дополнительные искажения. Это особенно важно при тестировании космических антенн, где даже микронные отклонения могут повлиять на качество сигнала.
