После ухода зарубежных поставщиков российские специалисты столкнулись с проблемой доступа к оборудованию для анализа безопасности микросхем. Решение представил R&D-центр Positive Labs компании Positive Technologies, разработав первый в России лазерный комплекс для исследования защищённости микроэлектроники.
Новая система получила название LFI-26 (Laser Fault Injection). До 2022 года подобные решения российские компании приобретали у французской компании ALPhANOV и нидерландской Riscure. Собственных универсальных комплексов такого класса в стране не производилось.
Технология позволяет направленным лазерным воздействием вызывать контролируемые сбои в работе микросхем с точностью до микросекунд. Это помогает специалистам выявлять уязвимости в аппаратной защите устройств. Подобные исследования применяются при проверке чипов для банковских карт, банкоматов, криптокошельков, смартфонов, IoT-оборудования, автомобильной электроники и даже космических аппаратов.
На первый взгляд может показаться, что речь идёт об инструменте для взлома. На практике такие комплексы используются для обратной задачи — поиска слабых мест до того, как ими смогут воспользоваться злоумышленники. Чем раньше обнаружена уязвимость на уровне микросхемы, тем дешевле и проще её устранить.
По словам руководителя R&D-центра Positive Labs Алексея Усанова, собственный комплекс был необходим для сохранения компетенций в области аппаратной безопасности и независимого анализа как зарубежных, так и отечественных чипов.
LFI-26 стал частью линейки исследовательского оборудования Positive Labs, куда также входят комплексы электромагнитного воздействия EMFI-26 и система анализа побочных каналов EMSCA-26.